Scott黏性測(cè)試用來測(cè)量面紙內(nèi)部纖維粘合強(qiáng)度。這將測(cè)試出當(dāng)面紙粘合到芯紙層時(shí)，是否會(huì)導(dǎo)致紙板分層或者表層剝落；

　　拔蠟度測(cè)試用來評(píng)估面紙剝落度；

　　頂層表面的吸水率用“可勃法(Cobb test)”進(jìn)行測(cè)試，與適印性有關(guān)；背面也進(jìn)行該測(cè)試，以評(píng)估其粘合特性是否適合于粘合瓦楞芯紙；

　　頂層表面也需要進(jìn)行測(cè)試，了解光滑度、陰影水平和相對(duì)于適印性的陰影變量；

　　走紙性非常重要，包括均勻的含水率和無破裂折疊能力。

　　紙箱

　　紙箱抗壓強(qiáng)度測(cè)試

　　這種測(cè)試所需壓力較大，用來測(cè)定成品紙箱的潛在堆疊強(qiáng)度——即，填充好物品的紙箱究竟能堆多高。這不僅取決于紙箱頂部對(duì)底部的壓縮強(qiáng)度，還取決于內(nèi)裝物品的重量及自身的特性。如果內(nèi)裝物品的主容器（如罐、瓶）有結(jié)構(gòu)豎直強(qiáng)度而且緊密排列在紙箱里，則會(huì)有助于提高紙箱的抗壓強(qiáng)度。當(dāng)然，紙箱堆底層的紙箱所受壓力決定了所需的紙箱抗壓強(qiáng)度。

　　這種測(cè)試得出的結(jié)果和實(shí)際結(jié)果卻常常相去甚遠(yuǎn)。出現(xiàn)這種差別的原因要么是紙板質(zhì)量不一，特別是每面紙板的粘合強(qiáng)度不同，要么就常常是紙箱的豎直紙板面發(fā)生了變形。這些現(xiàn)象會(huì)發(fā)生在裝填物品的過程中，更會(huì)發(fā)生在封箱過程中，主要是因?yàn)榧埌鍓壕�不夠清晰、難以辨認(rèn)，或者由于壓線工具不合適或受損造成了壓痕失誤。折疊搖蓋時(shí)要干凈利索，否則會(huì)使壓線附近的紙板鼓起來，在豎直壓力作用下就有可能被壓潰。

　　但是紙箱的抗壓強(qiáng)度還取決于紙箱的ECT值和周長以及制箱紙板的厚度。McKee公式常用來計(jì)算紙箱的抗壓強(qiáng)度，公式如下：

　　BCT(千克)= 1.515*ECT0.57*T0.87*（L+W）0.47

　　其中，ECT為邊壓強(qiáng)度（kg/cm）， T為紙板厚度（mm），L 、W分別為紙箱的長度和寬度（mm）。

　　跌落測(cè)試

　　這種測(cè)試不僅僅是對(duì)紙箱，還包括對(duì)其內(nèi)裝物品和一些填充紙板等包裝整體的保護(hù)性能測(cè)試。上世紀(jì)前50年，測(cè)試方法多少顯得有些“粗暴”：把測(cè)試紙箱從二層或三層樓的窗戶扔到廠里的混凝土路面上，肉眼或拍照觀看結(jié)果如何。后來，人們還把紙箱放在手推車上沿著斜坡或斜道向下沖撞一個(gè)硬實(shí)的表面，或滾翻裝在轉(zhuǎn)筒里的紙箱讓其越過障礙物。如今，人們又研制出了新型抗震測(cè)試設(shè)備。

　　如今很多電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家都詳細(xì)規(guī)定了對(duì)跌落測(cè)試的要求，他們不允許內(nèi)裝物品出現(xiàn)任何損失。同前所述，這種測(cè)試不僅僅是對(duì)外包紙箱本身，還是對(duì)包裝設(shè)計(jì)、包裝材料和規(guī)格的整體測(cè)試。



   　【點(diǎn)擊查看更多精彩內(nèi)容】

        相關(guān)新聞:

　　文化紙價(jià)格平穩(wěn) 箱板紙瓦楞紙價(jià)格繼續(xù)回升
　　淺談紙板生產(chǎn)線瓦楞輥技術(shù)的要求
　　瓦楞印刷機(jī)工作常見的故障和解決方法
　　瓦楞紙箱市場(chǎng)的集中與發(fā)展